【9/30 Webセミナー】2D検査の誤検出にお悩みの方へ｜「高さ画像」を活用した最新AI外観検査を解説

2D外観検査の誤検出を高さ画像で解決 9月30日オンラインセミナー 3Dレーザープロファイル測定器SV-LPシリーズ

本オンラインセミナーのお申込みは、申込期限につき受付を終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

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プログラム内容

新製品「SV-LPシリーズ」のご紹介
2D検査と3D検査（高さ画像）の違いとメリット
StellaController 2.0との連携によるAI外観検査のデモンストレーション
適用事例「電池のなだらかな打痕」の検出はこう変わる！他
事前にお寄せいただいたご質問への回答（Q&A）

登壇者

株式会社Phoxter SmartVisionSolution事業部
事業部責任者　赤畠久幸

Phoxterの創業初期よりマシンビジョンの技術営業として参画し、多岐にわたる業界の検査自動化に貢献。現場プロセスへの深い知見を持ち、技術力に立脚した最適な光学系選定から、AIを活用した高度な外観検査システムの提案までを一貫して手掛ける。顧客の投資対効果を最大化する、現場視点に立った実践的な品質管理ソリューション提案が得意。

開催要項

開催日時：2026年9月30日（水）
【第1回】12:00～12:30
【第2回】15:00～15:30
※同内容で2回開催します。ご都合の良いお時間にご参加ください。
参加費：無料
申込期限：9月30日（水）AM10:00
オンラインウェビナー（Zoom配信）
※PC、タブレット、スマホのZoomアプリ、またはブラウザからご視聴いただけます。
注意事項：お申込み後、同業他社様や個人の方など、弊社の判断で参加をお断りする場合がございます。

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