2D検査の誤検出にお悩みの方へ｜「高さ画像」を活用した最新AI外観検査を解説【セミナー動画＆資料公開】

セミナー概要

2D検査での同色ワークや色ムラによる誤検出にお悩みの方、3D検査の導入をご検討中の皆様へ。
3D検査において「ゼロ点調整が大変」「ツール設定が決まらない」といった立ち上げ時の壁に直面したことはありませんか？

本セミナーでは、2026年9月新発売の高精度3Dレーザープロファイル測定器「SV-LPシリーズ」を活用し、「高さ画像」と「AI」を掛け合わせた外観検査の最新アプローチをご紹介します。
従来の検査設定のわずらわしさを解消し、検査の安定化と運用コスト削減を実現する具体的なノウハウを、現場の導入事例を交えながら分かりやすく解説いたします。

• 動画時間：約30分

こんな方におすすめ

• 2D検査での過検知や誤検出にお悩みの方、3D検査の導入をご検討中の方

• 3D検査機の「ゼロ点調整」や「ツール設定」に難渋している方

• 寸法計測や、打痕・キズなどの外観検査において、精度の向上や自動化を実現したい方

• 検査設定の属人化から脱却し、立ち上げや運用にかかる時間を削減したい方

動画の目次

1. 会社紹介

2. 従来の3次元測定の課題（なぜ3D検査は「立ち上げてからが大変」なのか）

3. SV-LPシリーズ 製品紹介（測定原理・ラインナップ・システム構成）

4. AIの優位性（AI学習の簡便さ、高速処理）

5. 課題に対する解決策（3D × AI外観検査）

6. 導入事例のご紹介